Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
- Författare
- (Edited by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody.)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Plenum Press | 1997 | USA, New York, NY | x, 250 sidor illustrationer 26 cm | 978-0-306-45596-4, 978-1-4757-9327-7 |
| Springer-Verlag | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-4757-9327-7 |